Les travaux présentés dans ce mémoire visent à analyser et optimiser le comportement des composants de protection haute tension contre les décharges électrostatiques (ESD) à leur  déclenchement. Pour cela, deux approches ont été suivies :Un outil de mesure dédié, le transient-TLP », a été développé. Cet outil est basé sur la correction mathématique des données mesurées à l'oscilloscope avec un système de mesure vf -TLP standard. L'atténuation fréquentielle et le déphasage des signaux d'oscilloscope sont corrigés à l'aide des coefficients de paramètres -S du système. L'erreur de mesure est inférieure à 2 %. La méthode, d'abord conçue pour des mesures sur wafer, a ensuite été appliquée pour mesurer des composants sur boîtier. A l'aide de cet outil, le comportement transitoire des protections ESD utilisées à Freescale a pu être analysé.Des simulations TCAD ont ensuite été menées pour étudier les étapes du déclenchement d'un composant de protection haute tension. En particulier, l'origine physique de l'apparition d'un pic de surtension au déclenchement de ce composant a été expliquée, et des solutions de dessin ont été proposées pour en réduire l'amplitude.