Stage

Développement d’un système de test de la vulnérabilité des systèmes électroniques aux perturbations électromagnétiques

Équipes / Services concernés

Responsables

Alexandre Boyer

Date de publication

06.11.25

Prise de poste souhaitée

02.02.26

Lieu et durée du stage :

· Lieu du stage : LAAS-CNRS, Toulouse

· Démarrage prévue : Février 2026

· Durée du stage : 6 mois

Candidature :

· CV, lettre de motivation, résultats universitaires

· Contact : ,

Ce stage s’inscrit dans le cadre du Laboratoire commun Instrumentation et Capteurs Ultra-Rapides (LICUR) entre le CEA Gramat et le LAAS-CNRS à Toulouse. Il vise à développer un système de test représentatif des applications testées au CEA, incluant un microcontrôleur et plusieurs capteurs. Il servira pour les travaux d’une future thèse dédiée à l’analyse conjointe de la vulnérabilité des systèmes électroniques aux perturbations électromagnétiques rayonnées, en champ proche et en champ lointain. Ce système de test, facilitera l’analyse des modes de couplage des perturbations et des modes de défaillance des circuits et la comparaison de la vulnérabilité de différents microcontrôleurs.

Déroulement : Les tâches à réaliser seront :

  • Définir, développer et assembler la carte de test
  • Définir et développer l’interface entre la carte de test et les environnements de test (carte(s) d’interface, boitier de blindage, câbles …)
  • Valider le bon fonctionnement du système de test
  • Réaliser une première campagne de tests de susceptibilité en champ proche et en champ lointain
  • Premières conclusions sur les zones de couplage aux perturbations électromagnétiques et les vulnérabilités des composants

Formation et compétences souhaitées :

  • Master 2 ou dernière année d’école d’ingénieur,
  • Electronique, conception et réalisation de cartes électroniques, instrumentation électronique, programmation embarquée.
  • Connaissances basiques en compatibilité électromagnétique appréciées