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Lucien Ghizzo

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ISGE : Intégration de Systèmes de Gestion de l’Energie

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2023

Articles dans une revue

L. Ghizzo, David Trémouilles, Frédéric Richardeau, S. Vinnac, Lucas Moreau, et al.. Preconditioning of p-GaN power HEMT for reproducible V measurements. Microelectronics Reliability, 2023, 144, pp.114955. ⟨10.1016/j.microrel.2023.114955⟩. ⟨hal-04049626⟩

Communications dans un congrès

Lucien Ghizzo, David Trémouilles, Frédéric Richardeau. Méthode de préconditionnement du HEMT GaN pour une mesure reproductible de Vth. SYMPOSIUM DE GENIE ELECTRIQUE (SGE 2023), Jul 2023, Lille, France. https://sge2023.sciencesconf.org/resource/page/id/35. ⟨hal-04157673⟩

Lucien Ghizzo, David Trémouilles, Frédéric Richardeau, Sébastien Vinnac, François Jamin, et al.. Over-Voltage and Cross-Conduction Hard Switching Stress on Schottky Gate-Type p-GaN HEMT in Half-Bridge Operation Experimental and Physical Approaches [ESREF'23]. 34th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, Oct 2023, Toulouse, France. ⟨10.1016/j.microrel.2023.115172⟩. ⟨hal-04252379⟩

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