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Contact : renatech@laas.fr

La plate-forme Caractérisation accueille l'activité de caractérisation de 11 équipes de recherche et de 4 start-up avec le soutien technique du service I2C et sous la coordination d'un comité de pilotage.

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Quelles sont les quatre zone constituant cette plate-forme ?

Caractérisation électrique, ESD et gestion de l'énergie

Cette zone regroupe les moyens de test et de caractérisation électrique de micro et nanosystèmes dans le domaine continu et basses fréquences tels que : I-V, C-V, mesure d’impédance (jusqu’à 110 MHz), test paramétrique, effet Hall, DLTS, thermographie IR, etc.. Toutes ces mesures peuvent être réalisées sur puces nues grâce à 4 stations sous pointes, ou sur dispositifs encapsulés. Sont également disponibles de nombreux outils de caractérisation ESD (décharges électrostatiques).

Au sein de la Plateforme ADREAM sont regroupés les moyens de caractérisation permettant de qualifier des systèmes de conversion de l’énergie et plus particulièrement les systèmes de gestion photovoltaïque. Pour ce faire, un banc de caractérisation automatique a été spécialement développé afin de procéder aux tests de performance adapté aux exigences photovoltaïques. La plateforme de recherche dispose de 8 bancs de test, permettant la connexion aux modules photovoltaïques disposés sur le bâtiment. Les bancs disposent également de connexion vers les locaux de stockage électrochimique (Batterie plomb, lithium, pile à combustible).

Caractérisation hyperfréquences

Le LAAS a les moyens d’effecteur des mesures de paramètres S sous pointes à partir de 9 kHz jusqu’à 140 GHz. Des mesures spectrales sous pointes sont possibles du DC jusqu’à 90 GHz. Plusieurs bancs pour la mesure de fiabilité de MEMS existent (cyclage, comportement thermique sous de la puissance RF, …) avec notamment l’utilisation d’une station sous pointes cryogénique à ambiance contrôlée. Des mesures de diagramme d'antenne sont possibles sous pointe (de 40 MHz à 65 GHz) et en chambre anéchoïque (de 1 GHz à 40 GHz).

Caractérisation Optique

La zone de caractérisation optique regroupe les expérimentations des chercheurs travaillant dans les domaines de l’optique et de la photonique. Ces expériences vont de la caractérisation optiques de matériaux semi-conducteurs aux caractérisations de composants photoniques passifs (filtres à réseaux résonnants, micro-cavités…) et actifs (VCSELs, diodes laser, photodétecteurs, …). Pour ce faire les moyens suivants sont employés: PL et PLE en température, spectroscopie TFIR, I de V, P de I laser, diagrammes de divergence, analyse spectrale, pompage optique de sources à cristaux photoniques… dans les domaines visible et proche infrarouge.

Caractérisation pour la chimie et la biologie

Cette zone regroupe les moyens de caractérisation liés à la chimie et à la biologie, pour la micro-électronique. Elle comprend deux laboratoires de culture (cellulaire et microbiologique), une plateforme de microscopie, des moyens de manipulation de polymères et de nanoparticules, des équipements d'électrochimie,...Elle se situe dans un environnement adapté à la manipulation et au stockage de produits chimiques. S'ajoutent à ces moyens mutualisés, des bancs d'expérimentation plus proches des domaines de recherche de  certaines équipes du laboratoire : caractérisation de bio-NEMS, greffage de cellules neuronales sur des transistors, tri cellulaire...