Dans un contexte d'exigences sévères en termes de certification de Compatibilité ElectroMagnétique (CEM), celle-ci est une source importante de surcoût et de retard pour les fabricants de composants et de systèmes électroniques qui n'intègrent pas cette contrainte dès les phases de conception. Cette situation est d’autant plus pressante pour les applications où la sûreté de fonctionnement est critique (aéronautique, espace, automobile, santé) et du fait que des composants ou équipements hétérogènes du point de vue de leur émission et de leur immunité électromagnétique sont intégrés dans un volume réduit. L’anticipation, le diagnostic et la correction des problèmes de CEM requièrent non seulement le développement de moyens de caractérisation de l’émission électromagnétique et de l’immunité adaptés aux équipements électroniques concernés, mais aussi de méthodes de modélisation et de simulation dédiées.

Les activités en CEM de l'équipe ESE s'inscrivent à l'échelle du circuit intégré jusqu'à la carte électronique. Les thèmes de recherche abordés sont :

• Méthodes de caractérisation CEM des circuits et cartes électroniques
• Macromodélisation pour la simulation au niveau circuit/PCB/équipement
• Règles de conception orientées CEM
• Effet de l’environnement sur la CEM des circuits