Simulation des procédés technologiques de dépôt - M3

L'objectif principal de ces activités est de comprendre la formation des couches d'interface formées lors de la croissance des matériaux directement intégrés dans les dispositifs de la microélectronique et de mettre en relation la composition et la structure des couches élaborées avec les paramètres technologiques des procédés utilisés. La stratégie employée ici est une approche bottom-up et multi-niveaux où les données de type DFT sont utilisées comme paramètres d'entrée pour développer un code fondé sur une technique de Monte Carlo cinétique permettant de simuler la croissance à grandes échelles.

Ce code est également interfacé dans une plateforme de simulation des procédés, simple d'utilisation tel un nouvel outil de Conception Assistée par Ordinateur doté d'un granularité à l'échelle atomique (CAO atomistique).

 

 

 

  • Croissance de l'oxyde d'aluminium
    Ce travail est mené en collaboration avec Dr. Dominique Costa de Chimie-ParisTech, IRCP, à Paris, France.
    Le couplage DFT/ARTn sera utilisé pour mener à bien ce projet.

 

  • Formation de siliciure Mg2Si lors du dépôt de Mg sur Si(100)
    Ce travail est développé en collaboration avec Dr. Sébastien Vizzini de l'IM2NP, à Marseille, France.