Bruit électrique : du composant au système complexe

Quatre grands axes composent ce thème de recherche :

• Le premier concerne la fiabilité et la robustesse des composants électroniques utilisés dans le domaine des hyperfréquences. La caractérisation en bruit basse fréquence, associée à la modélisation au niveau composant ou circuit, permet non seulement d’identifier les composants potentiellement défectueux mais également de comprendre l’origine des défauts observés. Cette approche est appliquée aux filières technologiques les plus récentes (GaN, Diamant…).

Mesure de bruit basse fréquence en cage de faraday

• Les propriétés en bruit des nouveaux composants, allant des basses fréquences jusqu’à 40 GHz, sont étudiées dans un deuxième axe, afin d’évaluer leurs performances pour des applications à très faible bruit, comme les amplificateurs ou les sources de référence pour radiomètres. Il s’agit également d’anticiper les conséquences sur les applications futures de l’augmentation du bruit liée à la réduction des dimensions notamment dans les nano-composants et nano-strucutures.

• Le troisième axe concerne l’étude du bruit dans les dispositifs fonctionnant en régime non-linéaire (oscillateurs et amplificateurs). Des modèles utilisables en CAO ou de type comportemental sont développés afin de rendre compte de phénomènes complexes comme la conversion du bruit basse fréquence pour les applications à haute pureté spectrale ou d’évaluer la robustesse des amplificateurs en présence de signaux bloqueurs.

• Le dernier axe s’intéresse au cas des systèmes plus complexes où les caractéristiques en bruit de plusieurs types de circuits ont un impact (qu’il faut évaluer et modéliser) sur la performance globale du système. Cette approche est développée sur des détecteurs de phase à échantillonnage ou sur des systèmes de mesure ultra sensibles comme les radiomètres.

  Mesure de bruit haute-fréquence (1 – 40 GHz)