Les travaux de cette thèse présentent l'intégration d'un banc de mesure de bruit de phase reconfigurable basé sur des résonateurs BAW, cibles ou références de la mesure. Une tendance actuelle vise en effet à intégrer à côté de systèmes plus ou moins complexes, des circuits d'instrumentation permettant d'en faciliter les tests. Ce type de mesure « On-Chip » simplifie considérablement la procédure de test, en minimisant l'utilisation de matériels de mesure externes encombrants et de coût élevé, en particulier dans la gamme micro-ondes (station sous pointes, connectique, générateurs et analyseurs de signaux, ...). Il offre aussi la possibilité de suivre facilement l'évolution des caractéristiques d'un système, soit dans le temps, soit après divers types de dégradations, et conduit naturellement à la conception de circuits autotestables et donc autoreconfigurables. En particulier, le bruit de phase des références de fréquence est un facteur essentiel dans la qualité des communications analogiques et numériques, et être capable d'en suivre l'évolution de manière ponctuelle mais régulière, voire de créer des boucles de régulation pour en diminuer l'impact à partir d'un système de mesure facilement accessible est un atout considérable. Notre travail de thèse a consisté à définir l'architecture, ainsi que le dimensionnement des différents éléments d'un banc de mesure de bruit de phase totalement intégré, à partir d'un plancher de mesure souhaitée. Nous avons montré qu'un système d'instrumentation performant pour la mesure de bruit de phase de quadripôles ou de sources peut s'intégrer dans une technologie SiGe standard faible coût.