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Electro-thermo-mechanical finite element modeling to investigate the reliability of automotive MOSFET transistor
T.AZOUI, P.TOUNSI, J.M.DORKEL
ISGE
Manifestation avec acte : COMSOL Conference 2010, Paris (France), 17-19 Novembre 2010, 4p. , N° 10735
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123223Innovative methodology to extract dynamic compact thermal models: application to power devices
T.AZOUI, P.TOUNSI, J.M.DORKEL
ISGE
Manifestation avec acte : International Workshop on THERMal INvestigations of ICs and Systems (THERMINICS 2010), Barcelone (Espagne), 6-8 Octobre 2010, pp.160-164 , N° 10542
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122793Dynamic compact thermal model for smart electro-thermal simulation: application to automotive power device
T.AZOUI, P.TOUNSI, P.DUPUY, J.M.DORKEL
ISGE, FREESCALE
Manifestation avec acte : IEEE Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting (BCTM 2010), Austin (USA), 4-6 Octobre 2010, pp.265-268 , N° 10503
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123919Boundary condition independent multiple cooling surfaces transient compact thermal model
T.AZOUI, P.TOUNSI, J.M.DORKEL
ISGE
Manifestation avec acte : Electronics System Integration technology Conference (ESTC 2010), Berlin (Allemagne), 13-16 Septembre 2010, 4p. , N° 10403
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122495VDMOS Ron as a mechanical state indicator for device failure anticipation
E.MARCAULT, M.BREIL, A.BOURENNANE, P.TOUNSI, J.M.DORKEL
ISGE
Manifestation avec acte : International Seminar on Power Semiconductors (ISPS'10), Prague (République Tchèque), 1-3 Septembre 2010, pp.67-72 , N° 10251
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122353Développement de modèles thermiques compacts dynamiques
T.AZOUI, P.TOUNSI, J.M.DORKEL
ISGE
Manifestation avec acte : Electronique de Puissance du Futur (EPF 2010), Saint Nazaire (France), 30 Juin - 2 Juillet 2010, 5p. , N° 10332
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121926Modélisation thermosensible d'un composant vertical de puissance
H.DIA, P.TOUNSI, J.M.DORKEL
ISGE
Manifestation avec acte : Electronique de Puissance du Futur (EPF 2010), Saint Nazaire (France), 30 Juin - 2 Juillet 2010, 5p. , N° 10331
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121927Influence des contraintes mécaniques et thermomécaniques sur les caractéristiques électriques d'un transistor VDMOS
E.MARCAULT, A.BOURENNANE, M.BREIL, P.TOUNSI, J.M.DORKEL
ISGE
Manifestation avec acte : Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique (JNRDM 2010), Montpellier (France), 7-9 Juin 2010, 5p. , N° 10533
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122475Le diamant pour l'élecronque de puissance- Développement des technologies associées
G.CIVRAC, Z.ZHANG, H.DING, H.SCHNEIDER, M.L.LOCATELLI, K.ISOIRD, P.TOUNSI
ISGE, LAPLACE
Revue Scientifique : Revue de l'Electricité et de l'Electronique, N°10, pp.68-72, 10 Novembre 2009 , N° 09798
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1201063D Electro-Thermal Study for Reliability of Automotive Power Vertical MOSFET Using COMSOL Multiphysics
T.AZOUI, S.VERDE, J.B.SAUVEPLANE, P.TOUNSI
ISGE
Manifestation avec acte : COMSOL Conference 2009, Milan (Italie), 14-16 Octobre 2009 , N° 09879
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