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Identification of VDMOS electrical parameters potentially usable as mechanical stress indicators for power assembly ageing monitoring

E.MARCAULT, A.BOURENNANE, M.BREIL, P.TOUNSI, J.M.DORKEL

ISGE

Manifestation avec acte : International Seminar on Power Semiconductors ( ISPS ) 2012 du 29 août au 31 août 2012, Prague (République Tchèque), Décembre 2012, 7p. , N° 12663

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Temperature sensing for power MOSFETs in short duration avalanche mode

T.AZOUI, P.TOUNSI, G.PASQUET, J.M.REYNES, E.POMES, J.M.DORKEL

ISGE, FREESCALE

Rapport LAAS N°12482, Septembre 2012, 5p.

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Innovative methodology to extract dynamic compact thermal models: application to power devices

T.AZOUI, P.TOUNSI, J.M.DORKEL

ISGE

Revue Scientifique : Microelectronics Journal, Vol.43, N°9, pp.642-648, Septembre 2012 , N° 11578

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Power MOSFET quality and robustness enhancement with a new QBD characterization performed at probe–die–wafer level

E.POMES, J.M.REYNES, P.TOUNSI, J.M.DORKEL

ISGE, FREESCALE

Revue Scientifique : Materials Science and Engineering: B, Vol.177, N°15, pp.1362-1366, Septembre 2012 , N° 12731

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Auto-adaptive Multi-heat sources and multi-cooling surfaces dynamic compact thermal model

T.AZOUI, P.TOUNSI, E.MARCAULT, J.M.DORKEL, J.L.MASSOL

ISGE

Manifestation avec acte : International Seminar on Power Semiconductors (ISPS 2012), Prague (République Tchèque), 29-31 Août 2012, pp.155-161 , N° 12454

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Recherche d’un indicateur de l’état de vieillissement de composants électroniques de puissance

E.MARCAULT, M.BREIL, A.BOURENNANE, P.TOUNSI, J.M.DORKEL

ISGE

Manifestation sans acte : ANADEF, Seignosse (France), 5-8 Juin 2012, 15p. , N° 12386

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Using zero thermal coefficient point property for VDMOS power devices health monitoring

E.MARCAULT, A.BOURENNANE, M.BREIL, P.TOUNSI, P.DUPUY

ISGE, FREESCALE

Manifestation avec acte : International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD 2012), Bruges (Belgique), 3-7 Juin 2012, 4p. , N° 11624

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Investigation of failure mechanisms in low-voltage power VDMOSFETs linked with gate oxide process quality

E.POMES, J.M.REYNES, P.TOUNSI, J.M.DORKEL

ISGE, FREESCALE

Manifestation avec acte : International Conference on Microelectronics (MIEL 2012), Nis (Serbie), 13-16 Mai 2012, 4p. , N° 12098

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Numerical and experimental results correlation concerning power MOSFETs ageing

T.AZOUI, P.TOUNSI, P.DUPUY, J.M.DORKEL, E.MARCAULT

ISGE, FREESCALE

Manifestation avec acte : Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems (EuroSimE 2012), Lisbonne (Portugal), 16-18 Avril 2012, 4p. , N° 12191

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Expected electro-thermal improvements using sintered silver die attach

T.AZOUI, P.TOUNSI, J.M.DORKEL, P.DUPUY

ISGE, FREESCALE

Rapport LAAS N°12177, Avril 2012, 4p.

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