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Etude préliminaire d'une loi de régulation-poursuite à faible gain pour référence de tension haute précision à base de MEMS
G.MONTSENY, C.CASENAVE, E.MONTSENY, H.CAMON, F.BLARD
MRS, DISCO, N2IS
Rapport de Contrat : Convention : Modélisation et identificationi du comportement de structures MEMS pour l'élaboration d'une loi de commande appliquée à l'électronique basée suur la tension de pull-in., Convention LAAS-LNE (Laboratoire National de méthodologie et d'Essais), Décembre 2009 , N° 09874
Non diffusable
120432Precision MEMS Sensors Multi-Physics Design and Fabrication
F.BLARD, A.BOUNOUH, H.CAMON, D.BELIERES, F.ZIADE
N2IS, LNE
Rapport LAAS N°09545, Septembre 2009, 23p.
Diffusable
118981Two dimensional modeling of dielectric elastomer micro-actuator using finite element method
S.SOULIMANE, S.PINON, H.CAMON
N2IS
Manifestation avec acte : 20th MicroMechanics Europe workshop (MME 2009), Toulouse (France), 20-22 Septembre 2009, 4p. , N° 09594
Diffusable
119564Microsystems for electrical AC voltage metrology
A.BOUNOUH, F.BLARD, H.CAMON, D.BELIERES, F.ZIADE
N2IS, LNE
Manifestation avec acte : IMEKO World Congress on Fundamental and Applied Metrology, Lisbonne (Portugal), 6-11 Septembre 2009, pp.844-848 , N° 09844
Non diffusable
122823Identification of electrostatically actuated MEMS models from real measurement data
C.CASENAVE, E.MONTSENY, H.CAMON
MRS, DISCO, N2IS
Manifestation avec acte : 15th IFAC Symposium on System Identification (SYSID 2009), St Malo (France), 6-8 Juillet 2009, 6p. , N° 09022
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Abstract
This paper focuses on the identification of nonlinear dynamic models for physical systems such as Micro-Electro-Mechanical Systems (MEMS) from measurement data. The proposed approach consists in transforming, by means of suitable global operations, the specific input-output differential physical model of the system elaborated from physical analysis, in such a way that we get a new equivalent model formulation specifically adapted to the identification problem. Thanks to the equivalence of the dynamic model and the derived identification problem, the so-identified model remains of continuous-time type, with a clear physical meaning of any of its components, which is not the case when using, for example, black-boxes approaches. The method is implemented on real measurement data from a physical system.
Mots-Clés / Keywords
Dynamic modelling; Parameter identification; Nonlinear model; Least-squares;
Modélisation et identification du comportement de structures MEMS pour l'élaboration d'une loi de commande appliquée à l'électronique basée sur la tension de pull-in. Rapport intermédiaire: modélisation, identification et validation
C.CASENAVE, E.MONTSENY, H.CAMON
MRS, DISCO, N2IS
Rapport de Contrat : Convention LAAS-LNE 2008, Mai 2009, 73p. , N° 09290
Non diffusable
117806MEMS multi-physics approach design and fabrication for electrical metrology applications
F.BLARD, A.BOUNOUH, H.CAMON, D.BELIERES, F.ZIADE
LNE, N2IS
Manifestation avec acte : Symposium on Design, Test, Integration & Packaging of MEMS/MOEMS (DTIP'2009), Rome (Italie), 1-3 Avril 2009, pp.214-218 , N° 09175
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117254Microsystèmes électromécaniques pour la référence en tension
F.BLARD, H.CAMON
N2IS
Rapport de Contrat : Contrat LNE/DRST 073001, Janvier 2009, 34p. , N° 09015
Diffusion restreinte
116336The tomo-tweezers: a new instrument combining magnetic tweezers and microchip technology for single molecule studies
L.DISSEAU, J.MINE, M.DILHAN, H.CAMON, G.CAPPELLO, J.L.VIOVY
Institut Curie, TEAM, MIS
Manifestation avec acte : 12th International Conference on Miniaturized Systems for Chemistry and Life Sciences (MicroTAS'08), San Diego (USA), 12-16 Octobre 2008, 2p. , N° 08591
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Mots-Clés / Keywords
Magnetic tweezers; Microchip technology; Single molecule; DNA repair;
Design and fabrication of MEMS based AC voltage reference
A.BOUNOUH, H.CAMON, R.PLANA, D.BELIERES, Q.WANG, F.BLARD, F.ZIADE, A.POLETAEFF, D.ALLAL, C.PISELLA
LNE, MIS, MINC, N2IS, TRONIC'S
Manifestation avec acte : 16th IMEKO TC4 Symposium on Exploring New Frontiers of Instrumentation and Methods for Electrical and Electronic Measurements , Florence (Italie), 22-24 Septembre 2008, 6p. , N° 08453
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114961