Laboratoire d’Analyse et d’Architecture des Systèmes
M.TORRES , B.DOUCHIN, F.COLLOMBET, L.CROUZEIX, Y.H.GRUNEVALD, A.R.BAZER-BACHI, J.LUBIN, T.CAMPS
Toulouse III, C.E.S, CESR, N2IS
Manifestation avec acte : 17èmes Journées Nationales sur les Composites (JNC17), Poitiers (France), 15-17 Juin 2011, 10p. , N° 11361
Lien : http://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00597883/fr/
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Les structures composites présentent l'intérêt d'être instrumentée à coeur. On peut dénombrer différentes techniques de capteurs candidates comme les capteurs de silicium (Sich), piézoélectriques (PZT) et mécano-électriques (MEMS). On envisage l'instrumentation à coeur selon deux pistes capteurs nus ou encapsulés. La première consiste à placer le capteur directement entre les plis de la structure. La seconde passe par une encapsulation du capteur au sein d'un environnement connu. L'Institut Clément Ader et la SaRL Composites Expertise & Solutions travaillent sur cette dernière piste en utilisant un patch d'enfouissement. Le concept de patch est proposé de façon à faciliter l'industrialisation de la mise en place des capteurs, particulièrement en cas de liaison filaire. Des études expérimentales sont réalisées pour analyser le comportement des éprouvettes carbone-époxy quasi-iso M21T700GC avec capteurs enfouis, nus ou encapsulés. La technique de Stéréo Corrélation d'Images Numériques durant l'essai est mise en place afin de déterminer l'évolution du champ de déformation au voisinage du capteur et, lorsqu'il est présent, du patch associé. En parallèle, des modèles Eléments Finis, sous SAMCEF®, sont développés pour étudier aux échelles structurelle, macroscopique et mésoscopique, le comportement numérique du capteur et de son entourage. La valeur ajoutée de la démarche est mise en évidence avant d'entamer des études sur structures plus complexes à l'aide de la boîte à outils " Evaluateurs Technologiques Multi Instrumentés (ETMIs).
B.REIG, T.CAMPS, V.BARDINAL, D.BARAT, E.DARAN, J.B.DOUCET
PH, N2IS, TEAM
Manifestation avec acte : Conference on Lasers and Electro-Optics Europe (CLEO 2011), Munich (Allemagne), 22-26 Mai 2011, 1p. , N° 11290
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124786D.BARAT, V.BARDINAL, T.CAMPS, B.REIG, J.B.DOUCET, E.DARAN, I.DIKA, C.TURCK, J-P.MALVAL, O.SOPPERA
PH, N2IS, TEAM, IS2M
Manifestation avec acte : Journées de la Matière Condensée (JMC12), Troyes (France), Avril 2011, 1p. (Résumé) , N° 10924
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124349B.REIG, V.BARDINAL, M.AUFFRAY, E.DARAN, J.B.DOUCET, T.CAMPS
PH, CIRIMAT, TEAM, N2IS
Rapport de Contrat : Projet région n° 080003022, Mars 2011, 10p. , N° 11193
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124456V.BARDINAL, B.REIG, T.CAMPS, E.DARAN, C.LEVALLOIS, C.VERGNENEGRE, T.LEICHLE, G.ALMUNEAU, J.B.DOUCET
PH, N2IS, TEAM, INSA Rennes, 2I, NBS
Revue Scientifique : IEEE Photonics Technology Letters, Vol.22, N°21, pp.1592-1594, Novembre 2010 , N° 10404
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122865B.REIG, T.CAMPS, V.BARDINAL
PH, N2IS
Manifestation sans acte : Journées Nano Micro et Optoélectronique (JNMO 2010), Les Issambres (France), 28 Septembre - 1 Octobre 2010, 1p. (Résumé) , N° 10591
Diffusable
122959D.BARAT, B.REIG, T.CAMPS, J.B.DOUCET, E.DARAN, V.BARDINAL
PH, N2IS, TEAM
Manifestation sans acte : Journées Nano Micro et Optoélectronique (JNMO 2010), Les Issambres (France), 28 Septembre - 1 Octobre 2010, 1p. (Résumé) , N° 10593
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122961T.CAMPS, V.BARDINAL, E.HAVARD, M.CONDE, C.FONTAINE, G.ALMUNEAU, L.SALVAGNAC, S.PINAUD, J.B.DOUCET
PH, TEAM, N2IS
Revue Scientifique : European Physical Journal D, Vol.59, N°1, pp.53-57, Juillet 2010 , N° 10079
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122433C.ESCRIBA, H.BOUKABACHE, S.KSOURI, M.LASTAPIS, J.L.BOIZARD, T.CAMPS, J.M.DILHAC, S.ROLET, J.Y.FOURNIOLS
ISGE, N2IS, EADS-IW
Manifestation avec acte : European Workshop on Structural Health Monitoring (EWSHM 2010), Sorrento (Italie), 29 Juin - 2 Juillet 2010, pp.388-393 , N° 10146
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122135D.LAGRANGE, T.CAMPS
2I, N2IS
Rapport LAAS N°10196, Avril 2010, 26p.
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