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Caractérisation et tests de fiabilité préliminaires sur des transistors à effet de champ SiGe (MODFET)
A.RENNANE, L.BARY, J.KUCHENBECKER, J.L.ROUX, M.BORGARINO, J.G.TARTARIN, L.ESCOTTE, J.GRAFFEUIL, R.PLANA
CISHT, CNES, Modena
Manifestations avec acte à diffusion limitée : 6èmes Journées Microondes et Electromagnétisme de Toulouse (JMET'2003), Toulouse (France), 29 Janvier 2003, 3p. , N° 03019
Diffusable
100569Pré-étude prospective de miniaturisation d'équipements hyperfréquences
J.G.TARTARIN, J.GRAFFEUIL
CISHT, MOST
Rapport de Contrat : Contrat EADS Launch Vehicles, Décembre 2002, 42p. , N° 02638
Non diffusable
109763Caractérisation et tests de fiabilité de TEC SiGe (MODFET)
J.KUCHENBECKER, M.BORGARINO, J.G.TARTARIN, M.ZEUNER, U.KONIG, R.PLANA
CISHT, Modena, Daimler
Manifestations avec acte à diffusion limitée : 5èmes Journées Microondes et Electromagnétisme de Toulouse (JMET'2002), Toulouse (France), 24 Janvier 2002 (Résumé) , N° 02075
Diffusable
50676Reliability investigation in SiGe HBT's
J.KUCHENBECKER, M.BORGARINO, L.BARY, G.CIBIEL, O.LLOPIS, J.G.TARTARIN, J.GRAFFEUIL, S.KOVACIC, J.L.ROUX, R.PLANA
CISHT, Modena, SiGe Microsystems, CNES
Manifestations avec acte à diffusion limitée : Topical Meeting on Silicon Monolithic Integrated Circuits in RF systems, Ann Arbor (USA), 12-14 Septembre 2001, 4p. , N° 01603
Diffusable
49647Hot carrier effects in Si/SiGe HBTs
M.BORGARINO, J.KUCHENBECKER, J.G.TARTARIN, L.BARY, S.KOVACIC, R.PLANA, F.FANTINI, J.GRAFFEUIL
Modena, CISHT, 2I, SiGe Semiconductor
Revue Scientifique : IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, Vol.1, N°2, pp.86-94, Juin 2001 , N° 01661
Diffusable
101679Fiabilité des composants bipolaires à hétérojonction Si/SiGe
J.KUCHENBECKER, L.BARY, M.BORGARINO, J.L.ROUX, J.G.TARTARIN, J.GRAFFEUIL, F.FANTINI, O.LLOPIS, M.REGIS, R.PLANA
CISHT, Modena, CNES, CCM
Manifestations avec acte à diffusion limitée : 12èmes Journées Nationales Microondes (JNM'2001), Poitiers (France), 16-18 Mai 2001, 4p. (Résumé) , N° 01220
Diffusable
45466Fiabilité des composants bipolaires SiGe
J.KUCHENBECKER, L.BARY, J.G.TARTARIN, J.L.ROUX, O.LLOPIS, J.B.JURAVER, M.REGIS, J.GRAFFEUIL, R.PLANA
CISHT, CNES, SiGe Microsystems
Manifestations avec acte à diffusion limitée : 4èmes Journées Microondes et Electromagnétisme de Toulouse (JMET'2001), Toulouse (France), 30 Janvier 2001, 4p. , N° 01238
Diffusable
45669Hot carrier effects on the correlation resistance in Si/SiGe heterojunction bipolar transistors
M.BORGARINO, L.BARY, J.KUCHENBECKER, J.G.TARTARIN, H.LAFONTAINE, S.KOVACIC, R.PLANA, J.GRAFFEUIL, F.FANTINI
Modena, CCM, SiGe Microsystems
Manifestation avec acte : 8th IEEE International Symposium on Electron Devices for Microwave and Optoelectronic Applications (EDMO'2000), Glasgow (GB), 13-14 Novembre 2000, pp.8-13 , N° 00519
Diffusable
42133On the effects of hot carriers on the RF characteristics of Si/SiGe heterojunction bipolar transistors
M.BORGARINO, J.G.TARTARIN, J.KUCHENBECKER, T.PARRA, H.LAFONTAINE, S.KOVACIC, R.PLANA, J.GRAFFEUIL
Modena, CCM, SiGe Microsystems
Revue Scientifique : IEEE Microwave and Guided Wave Letters, Vol.10, N°11, pp.466-468, Novembre 2000 , N° 00576
Diffusable
42607Caractérisation et modélisation petit signal et en bruit de transistors bipolaires à hétérojonction Si/SiGe aux fréquences micro-ondes
J.G.TARTARIN, G.CIBIEL
CCM
Rapport de Contrat : Contrat ST-Microelectronics 680/99, Octobre 2000, 48p. , N° 00405
Non diffusable
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