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Développement de la méthode de l'onde thermique pour la détection des charges électriques dans des composants électroniques
O.FRUCHIER, P.NOTINGHER, S.AGNEL, A.TOUREILLE, B.ROUSSET, J.L.SANCHEZ
Montpellier, TEAM, CIP
Manifestations avec acte à diffusion limitée : 4ème Congrès de la Société Française d'Electrostatique, Poitiers (France), 2-4 Septembre 2004, 8p. , N° 04685
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103052On the use of the thermal step method as a tool for characterizing thin layers and structures for micro and nano-electronics
P.NOTINGHER, S.AGNEL, O.FRUCHIER, A.TOUREILLE, B.ROUSSET, J.L.SANCHEZ
TEAM, CIP, Montpellier
Revue Scientifique : Journal of Optoelectronics and Advanced Materials, Vol.6, N°3, pp.1089-1096, Septembre 2004 , N° 04320
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103040On the use of the thermal step method as a tool for characterizing thin layers and structures for micro and nano-electronics
P.NOTINGHER, S.AGNEL, O.FRUCHIER, A.TOUREILLE, B.ROUSSET, J.L.SANCHEZ
TEAM, CIP, Montpellier
Manifestations avec acte à diffusion limitée : MmdE-2004 Workshop, Bucarest (Roumanie), 25-27 Mai 2004, 7p. , N° 04320
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102331Differential reflectivity of a nanoscale Si-layered system
Z.T.KUZNICKI, V.SVRCEK, M.LEY, B.ROUSSET, F.ROSSEL, G.SARRABAYROUSE
EXT, PHASE, BASEL, TEAM, TMN
Manifestation sans acte : E-MRS Spring Meeting 2004, Strasbourg (France), 24-28 Mai 2004 (Résumé) , N° 04277
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102234Application de la méthode l'onde thermique pour la détection de la charge électrique dans une structure Métal-Oxyde-Semiconducteur
O.FRUCHIER, P.NOTINGHER, S.AGNEL, A.TOUREILLE, B.ROUSSET, J.L.SANCHEZ
Montpellier, TEAM, CIP
Manifestations avec acte à diffusion limitée : Journée Thématique du Club EEA Micro et Nanocaractérisation, Montpellier (France), 18 Mai 2004, 4p. , N° 04321
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102333Realization of vertical P+ wall through-wafer
J.L.SANCHEZ, E.SCHEID, P.AUSTIN, M.BREIL, H.CARRIERE, P.DUBREUIL, E.IMBERNON, F.ROSSEL, B.ROUSSET
CIP, TMN, TEAM
Manifestation avec acte : SPIE International Symposium on Micromachining and Microfabrication Process Technology IX, San Jose (USA), 27-29 Janvier 2004, Vol.5342, pp.119-127 , N° 03515
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101732Etude des matériaux LPCVD issus de la filière silicium
P.TEMPLE BOYER, L.BOUSCAYROL, P.FADEL, B.ROUSSET
TMN, TEAM
Rapport LAAS N°04006, Janvier 2004, 87p.
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101724Développements des microcapteurs chimiques ChemFETs pour les applications à l'hémodialyse
P.TEMPLE BOYER, M.L.POURCIEL, W.SANT, V.CONEDERA, T.DO CONTO, B.ROUSSET, A.MARTINEZ
TMN, TEAM
Rapport de Contrat : Contrat Région DAER Recherche N°01008883, Novembre 2003, 12p. , N° 03503
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101468Realization of vertical P+ walls through-wafer for bidirectional current and voltage power integrated devices
J.L.SANCHEZ, E.SCHEID, P.AUSTIN, M.BREIL, H.CARRIERE, P.DUBREUIL, E.IMBERNON, F.ROSSEL, B.ROUSSET
CIP, TMN, TEAM
Manifestation avec acte : 2003 IEEE 15th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD'03), Cambridge (GB), 14-17 Avril 2003, pp.195-198 , N° 03085
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100703Characterization of electric charge in non irradiated and irradiated MOS structures by thermal step and capacitance-voltage measurements
P.NOTINGHER, S.AGNEL, A.TOUREILLE, B.ROUSSET, J.L.SANCHEZ
Montpellier, TEAM, CIP
Manifestation avec acte : 2002 IEEE Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena (CEIDP'2002), Mexico (Mexique), 20-24 Octobre 2002, pp.95-100 , N° 02630
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