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Identification of VDMOS electrical parameters potentially usable as mechanical stress indicators for power assembly ageing monitoring
E.MARCAULT, A.BOURENNANE, M.BREIL, P.TOUNSI, J.M.DORKEL
ISGE
Manifestation avec acte : International Seminar on Power Semiconductors ( ISPS ) 2012 du 29 août au 31 août 2012, Prague (République Tchèque), Décembre 2012, 7p. , N° 12663
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128687Temperature sensing for power MOSFETs in short duration avalanche mode
T.AZOUI, P.TOUNSI, G.PASQUET, J.M.REYNES, E.POMES, J.M.DORKEL
ISGE, FREESCALE
Rapport LAAS N°12482, Septembre 2012, 5p.
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128024Innovative methodology to extract dynamic compact thermal models: application to power devices
T.AZOUI, P.TOUNSI, J.M.DORKEL
ISGE
Revue Scientifique : Microelectronics Journal, Vol.43, N°9, pp.642-648, Septembre 2012 , N° 11578
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127868Power MOSFET quality and robustness enhancement with a new QBD characterization performed at probe–die–wafer level
E.POMES, J.M.REYNES, P.TOUNSI, J.M.DORKEL
ISGE, FREESCALE
Revue Scientifique : Materials Science and Engineering: B, Vol.177, N°15, pp.1362-1366, Septembre 2012 , N° 12731
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128868Auto-adaptive Multi-heat sources and multi-cooling surfaces dynamic compact thermal model
T.AZOUI, P.TOUNSI, E.MARCAULT, J.M.DORKEL, J.L.MASSOL
ISGE
Manifestation avec acte : International Seminar on Power Semiconductors (ISPS 2012), Prague (République Tchèque), 29-31 Août 2012, pp.155-161 , N° 12454
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127909Démarche de simulation pour la conception de structures indicatrices du vieillissement de dispositifs de puissance
E.MARCAULT, A.BOURENNANE, M.BREIL, J.M.DORKEL
ISGE
Manifestation avec acte : Conférence Electronique de Puissance du Futur (EPF 2012), Bordeaux (France), 5-7 Juillet 2012, 2p. , N° 12117
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127661Recherche d’un indicateur de l’état de vieillissement de composants électroniques de puissance
E.MARCAULT, M.BREIL, A.BOURENNANE, P.TOUNSI, J.M.DORKEL
ISGE
Manifestation sans acte : ANADEF, Seignosse (France), 5-8 Juin 2012, 15p. , N° 12386
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127732Investigation of failure mechanisms in low-voltage power VDMOSFETs linked with gate oxide process quality
E.POMES, J.M.REYNES, P.TOUNSI, J.M.DORKEL
ISGE, FREESCALE
Manifestation avec acte : International Conference on Microelectronics (MIEL 2012), Nis (Serbie), 13-16 Mai 2012, 4p. , N° 12098
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127295FE analysis of the electro-thermal behaviour of power MOSFETs under extreme conditions
T.AZOUI, P.TOUNSI, J.M.DORKEL, P.DUPUY
ISGE, FREESCALE
Rapport LAAS N°12178, Avril 2012, 4p.
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126990Expected electro-thermal improvements using sintered silver die attach
T.AZOUI, P.TOUNSI, J.M.DORKEL, P.DUPUY
ISGE, FREESCALE
Rapport LAAS N°12177, Avril 2012, 4p.
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