Laboratoire d’Analyse et d’Architecture des Systèmes
M.BAFLEUR, J.M.DILHAC
ISGE
Rapport LAAS N°10792, Janvier 2011, 17p.
Lien : http://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00412524/fr/
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Les réseaux de capteurs sans fil vont sans doute dans les dix années à venir constituer un développement technologique majeur apportant des solutions aux différents problèmes sociétaux liés à la santé, la sécurité, les transports, l'automatisation des bâtiments, etc. Le Japon est déjà entré dans l'ère de ces réseaux ubiquitaires et à la fois universités et industries sont très actives dans le domaine. Dans ce rapport, nous présentons, d'une part les activités de quelques industriels japonais sur ce thème et d'autre part, les avancées dans le domaine de la gestion de l'énergie dans les réseaux de capteurs sans fil qui ont fait l'objet de présentations orales ou posters à la conférence PowerMEMS 2008. En résumé, il n'y pas vraiment d'application phare (« killer application ») mais certaines pourraient bien émerger, conséquence de réglementations dans les transports ou les bâtiments, par exemple. Un des verrous majeurs pour la large diffusion de ces réseaux de capteurs est celui de l'autonomie en énergie qui nécessite encore beaucoup de travaux de recherche, mais constitue un domaine d'investigation très actif comme le démontre la forte participation internationale à la conférence PowerMEMS.
G.AURIOL, M.BAFLEUR, C.BARON, J.M.DILHAC, S.DI MERCURIO, C.ESCRIBA, J.Y.FOURNIOLS, R.MONTHEARD
ISI, ISGE, N2IS
Rapport de Contrat : Contrat Airbus PJOR D10014614, Janvier 2011, 9p. , N° 10795
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123476R.MONTHEARD, C.RENARD, M.BAFLEUR, J.M.DILHAC
ISGE, Airbus SAS
Manifestation avec acte : Asia Pacific Workshop on Structural Health Monitoring (APWSHM 2010), Tokyo (Japon), 30 Novembre - 2 Décembre 2010, 10p. , N° 10341
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123254J.BOURGEAT, C.ENTRIGER, P.GALY, M.BAFLEUR, D.MARIN-CUDRAZ
ISGE, ST Microelectronics
Manifestation avec acte : European Symposium on Reliability of Electron Devices Failure Physics and Analysis (ESREF 2010), Gaeta (Italie), 11-15 Octobre 2010, 4p. , N° 10273
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122857N.MONNEREAU, F.CAIGNET, D.TREMOUILLES, N.NOLHIER, M.BAFLEUR
ISGE, ESE
Manifestation avec acte : Electrical Overstress / Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD Symposium 2010), Reno (USA), 3-8 Octobre 2010, pp.127-136 , N° 10099
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122827A.DELMAS, A.GENDRON, M.BAFLEUR, N.NOLHIER, C.GILL
FREESCALE, ISGE
Manifestation avec acte : IEEE Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting (BCTM 2010), Austin (USA), 4-6 Octobre 2010, pp.253-256 , N° 10969
Lien : http://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00722641
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Transient voltage overshoots of a high voltage (20 V) ESD clamp based on bipolar transistors in a smart power technology are studied using different TLP pulse conditions (rise time, voltage amplitude). The physical mechanisms involved during the ESD clamp turn-on are thoroughly analyzed by the mean of TCAD simulations, allowing the definition of a set of design guidelines for the overshoot reduction.
J.BOURGEAT, C.ENTRINGER, P.GALY, F.JEZEQUEL, M.BAFLEUR
ISGE, ST Microelectronics
Manifestation avec acte : Electrical Overstress / Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD Symposium 2010), Reno (USA), 3-8 Octobre 2010, pp.11-19 , N° 10078
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123920B.ALLARD, M.BAFLEUR, E.LABOURE, H.ARBESS, K.EL FALAHI
AMPERE, Lyon, ISGE, SATIE
Rapport de Contrat : Projet FRAE COTECH, Septembre 2010, 8p. , N° 10540
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122486M.BAFLEUR, H.ARBESS
ISGE
Rapport de Contrat : Projet FRAE COTECH, Septembre 2010, 10p. , N° 10539
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122484G.AURIOL, M.BAFLEUR, C.BARON, J.M.DILHAC, C.ESCRIBA, J.Y.FOURNIOLS, A.GODLEWSKI, R.MONTHEARD, R.SAHORES
Labo. associé LATTIS, ISGE, N2IS
Rapport de Contrat : Airbus contract Ref PJOR D10014614, Septembre 2010, 29p. , N° 10491
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