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Low frequency and linear high frequency noise performances of AlGaN/GaN grown on SiC substrate
J.G.TARTARIN, G.SOUBERCAZE PUN, L.BARY, C.CHAMBON, S.GRIBALDO, O.LLOPIS, L.ESCOTTE, R.PLANA, S.DELAGE, C.GAQUIERE, J.GRAFFEUIL
CISHT, 2I, TRT, IEMN Villeneuve
Manifestation avec acte : 13th Gallium Arsenide and other Compound Semiconductors Application Symposium (GaAs'2005), Paris (France), 3-4 Octobre 2005, pp.277-280 , N° 05371
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105190A 0.25 um SiGe receiver front-end for 5GHz applications
M.DE MATOS, J.B.BEGUERET, H.LAPUYADE, D.BELOT, L.ESCOTTE, Y.DEVAL
ST, CISHT, IXL
Manifestation avec acte : 2005 International Microwave and Optoelectronics Conference (IMOC 2005), Brasilia (Brésil), 25-28 Juillet 2005, 4p. , N° 05162
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104840Comments on "Microwave noise modeling for InP-InGaAs HBTs"
L.ESCOTTE, J.GRAFFEUIL
CISHT
Revue Scientifique : IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Vol.53, N°1, pp.415-416, Janvier 2005 , N° 04454
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105412Low frequency noise measurements for ESD latent defect detection in high reliability applications
N.GUITARD, D.TREMOUILLES, M.BAFLEUR, L.ESCOTTE, L.BARY, P.PERDU, G.SARRABAYROUSE, N.NOLHIER, R.REYNA ROJAS
CIP, CISHT, 2I, CNES-THALES, TMN, CNES
Manifestation avec acte : 15th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF'2004), Zurich (Suisse), 4-8 Octobre 2004 , N° 04284
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102678Mesure des paramètres de bruit
L.ESCOTTE
CISHT
Ouvrage (contribution) : Mesures en hyperfréquences, Traité EGEM Electronique, Génie électrique, Microsystèmes, Hermes Science, N°ISBN 2-7462-0958-6, 2004, Chapitre 2, pp.69-113 , N° 02513
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102903Low frequency noise measurements for ESD latent defect detection in high reliability applications
N.GUITARD, D.TREMOUILLES, M.BAFLEUR, L.ESCOTTE, L.BARY, P.PERDU, G.SARRABAYROUSE, N.NOLHIER, R.REYNA ROJAS
CIP, CISHT, 2I, CNES-THALES, TMN, CNES
Revue Scientifique : Microelectronics Reliability, Issues 9-11, Vol.44, pp.1781-1786, Septembre-Novembre 2004 , N° 04284
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102679Corrélation entre le bruit haute fréquence et le bruit de phase dans les amplificateurs et les oscillateurs micro-ondes
G.CIBIEL, L.ESCOTTE, O.LLOPIS, M.CHAUBET
CISHT, CNES
Manifestations avec acte à diffusion limitée : Workshop "Bruit en régime linéaire et non-linéaire dans les composants et circuits de télécommunications", La Grande-Motte (France), 7-8 Juin 2004, 2p. , N° 04317
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102324High-frequency noise contribution to phase noise in microwave oscillators and amplifiers
G.CIBIEL, L.ESCOTTE, O.LLOPIS, M.CHAUBET
CISHT, CNES
Manifestation avec acte : Fluctuation and Noise, Las Palmas (Espagne,), 26-28 Mai 2004 , N° 04438
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102598Potentialities of low frequency noise measurement as ESD latent defect detection for high reliability applications
N.GUITARD, D.TREMOUILLES, M.BAFLEUR, L.ESCOTTE, L.BARY, P.PERDU, G.SARRABAYROUSE, N.NOLHIER, R.REYNA ROJAS
CIP, CISHT, 2I, CNES-THALES, TMN, CNES
Manifestations avec acte à diffusion limitée : Workshop EOS/ESD/EMI, Toulouse (France), 13 Mai 2004, 4p. , N° 04283
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102244Hydrogen induced degradation in GaInP/GaAs HBTs revealed by low frequency noise measurements
J.G.TARTARIN, L.ESCOTTE, M.BORGARINO, R.PLANA, J.GRAFFEUIL
CISHT, Modena
Manifestation avec acte : MRS Spring Meeting 2004, San Francisco (USA), 12-16 Avril 2004, 6p. , N° 04337
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102362