Publications personnelle

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27/11/2012

Caractérisations morphologiques et optiques de films minces P3HT : Ni-bdt pour application aux cellules photovoltaïques

D.HERNANDEZ MALDONADO, B.GARREAU-DE-BONNEVAL, K.MOINEAU CHANE CHING, C.VILLENEUVE, E.BEDEL-PEREIRA, F.OLIVIE, I.SEGUY, F.ALARY, J.L.HEULLY

LCC, LAPLACE, MPN, MICA, LCPQ-IRSAMC

Manifestation sans acte : Congrès sur les DIspositifs de l'ELectronique ORganique ( DIELOR ) 2012 du 14 novembre au 16 novembre 2012, Limoges (France), Novembre 2012, 2p. , N° 12648

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128618
11862
27/11/2012

Vers une vanne de spin organique à température ambiante: propriétés structurales, magnétiques et de transport d'hétérojonction Fe3O4/PTCTE/Co

M.PALOSSE, E.BEDEL-PEREIRA, F.OLIVIE, I.SEGUY, C.VILLENEUVE, T.BLON, C.GATEL, B.WAROT-FONROSE, J.F.BOBO

M2D, MINC, LPCNO, CEMES/CNRS

Manifestation sans acte : Colloque Louis Néel ( CLN ) 2011 du 21 septembre au 23 septembre 2011, Brest (France), Novembre 2012, 2p. , N° 11862

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128614
12473
12/09/2012

Effect of surface preparation and PECVD deposition parameters on electrical properties of GaN-based MOS structures on Sapphire and silicon substrates

E.AL ALAM, I.CORTES, T.BEGOU, A.GOULLET, A.CAZARRE, F.MORANCHO, F.OLIVIE, Y.CORDIER, M.P.BESLAND, K.ISOIRD

IMB-CSIC, IMN-CNRS, Nantes, N2IS, CRN2, Sherbrooke, ISGE, MPN, CRHEA

Rapport LAAS N°12473, Septembre 2012, 2p.

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128014
12448
25/06/2012

Electrical characterization of {311} defects and related junction leakage currents in n-type Si after ion implantation

C.NYAMHERE, F.CRISTIANO, F.OLIVIE, E.BEDEL-PEREIRA, J.BOUCHER, Z.ESSA, D.BOLZE, Y.YAMAMOTO

MPN, IHP

Manifestation avec acte : International Conference on Ion Implantation Technology (IIT'2012), Valladolid (Espagne), 25-29 Juin 2012, 4p. , N° 12448

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127896
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18/06/2012

Modélisation TCAD des profils et fuites de jonctions ultra-minces dans les technologies avancées

Z.ESSA, F.CRISTIANO, P.BOULENC, C.TAVERNIER, F.OLIVIE

ST Microelectronics, MPN, M2D

Manifestation sans acte : Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique (JNRDM 2012), Marseille (France), 18-20 Juin 2012, 5p. , N° 12447

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127894
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01/12/2011

Elaboration et caractérisation du matériau nanométrique CuMoO4 pour application photovoltaïque

M.BENCHIKHI, R.EL OUATIB, L.ER-RAKHO, B.DURAND, F.OLIVIE, K.KASSMI

CIRIMAT, M2D, Université Mohamed 1, Université Hassan II

Rapport LAAS N°11712, Décembre 2011, 6p.

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126215
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01/12/2011

Design, realization and optimization of a photovoltaic system equiped with analog MPPT command and detection circuit of the dysfunction and convergence the system (CDCS)

T.MRABTI, M.EL OUARIACHI, R.MALEK, Ka.KASSMI, B.TIDHAF, F.BAGUI, F.OLIVIE, K.KASSMI

IRISE, M2D, Université Mohamed 1

Revue Scientifique : International Journal of the Physical Sciences, Vol.6, N°35, pp.7865-7888, Décembre 2011 , N° 11682

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126061
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09/10/2011

I-DLTS, electrical lag and low frequency noise measurements of trapping effects in AlGaN/GaN HEMT for reliability studies

J.G.TARTARIN, S.KARBOYAN, F.OLIVIE, G.ASTRE, B.LAMBERT

MOST, M2D, UMS

Manifestation avec acte : European Microwave Week (EuMW 2011), Manchester (UK), 9-14 Octobre 2011, 4p. , N° 11545

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125540
11866
17/06/2011

Deep level transient spectroscopy study of ion implantation-induced extended defects in silicon

J.BOUCHER, F.OLIVIE, K.KOUKOS, E.BEDEL-PEREIRA, D.BOLZE, Y.YAMAMOTO, F.CRISTIANO

M2D, PHOTO, IHP

Manifestation avec acte : International Conference on Defects in Semiconductors ( ICDS ) 2011 du 17 juin au 22 juin 2011, Nelson (Nouvelle Zélande), 2011, 1p. , N° 11866

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128720
11249
18/05/2011

Identification des pièges dans les dispositifs HEMT AlGaN/GaN par mesures en I-DLTS, en bruit BF et électriques pulsées

S.KARBOYAN, J.G.TARTARIN, G.ASTRE, F.OLIVIE, B.LAMBERT

MOST, M2D, UMS

Manifestation avec acte : Journées Nationales Microondes (JNM 2011), Brest (France), 18-20 Mai 2011, 4p. , N° 11249

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