Publications personnelle

18documents trouvés

11108
04/07/2011

Exploring ageing effects on integrated power devices (I-V) for health monitoring

E.MARCAULT, M.BREIL, A.BOURENNANE, P.TOUNSI, P.DUPUY

ISGE, FREESCALE

Manifestation avec acte : Conference on Ph. D. Research in Microelectronics and Electronics (PRIME 2011), Trento (Italie), 4-8 Juillet 2011, 4p. , N° 11108

Diffusable

125423
11335
24/06/2011

Synthèse des travaux du LAAS pour le projet REMAPODE

E.MARCAULT, M.BREIL

ISGE

Rapport LAAS N°11335, Juin 2011, 4p.

Diffusable

124874
11257
23/05/2011

Power devices health monitoring elements free from temperature effects

E.MARCAULT, M.BREIL, P.TOUNSI, A.BOURENNANE, P.DUPUY

ISGE, FREESCALE

Rapport LAAS N°11257, Mai 2011, 4p.

Diffusable

124655
11033
17/04/2011

Impact of VDMOS source metallization ageing in 3D FEM wire lift off modeling

E.MARCAULT, T.AZOUI, M.BREIL, A.BOURENNANE, P.TOUNSI, P.DUPUY

ISGE, FREESCALE

Manifestation avec acte : Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems (EuroSimE 2011), Linz (Autriche), 17-20 Avril 2011, 2p. , N° 11033

Diffusable

124993
11051
17/04/2011

Impact of the solder joint ageing on IGBT I-V characteristics using 2D physical simulation

E.MARCAULT, M.BREIL, A.BOURENNANE, P.TOUNSI, P.DUPUY

ISGE, FREESCALE

Manifestation avec acte : Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems (EuroSimE 2011), Linz (Autriche), 17-20 Avril 2011, 2p. , N° 11051

Diffusable

124994
10251
09/09/2010

VDMOS Ron as a mechanical state indicator for device failure anticipation

E.MARCAULT, M.BREIL, A.BOURENNANE, P.TOUNSI, J.M.DORKEL

ISGE

Manifestation avec acte : International Seminar on Power Semiconductors (ISPS'10), Prague (République Tchèque), 1-3 Septembre 2010, pp.67-72 , N° 10251

Diffusable

122353
10533
07/06/2010

Influence des contraintes mécaniques et thermomécaniques sur les caractéristiques électriques d'un transistor VDMOS

E.MARCAULT, A.BOURENNANE, M.BREIL, P.TOUNSI, J.M.DORKEL

ISGE

Manifestation avec acte : Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique (JNRDM 2010), Montpellier (France), 7-9 Juin 2010, 5p. , N° 10533

Diffusable

122475
09167
12/06/2009

Potentialities of silicon piezoresistivity for mechanical state monitoring of VDMOS transistors

E.MARCAULT, M.BREIL, P.TOUNSI, J.M.DORKEL, A.BOURENNANE, J.B.SAUVEPLANE

ISGE

Manifestation avec acte : MIXDES 2009, Lodz (Pologne), 25-27 Juin 2009, 5p. , N° 09167

Diffusable

117983
Pour recevoir une copie des documents, contacter doc@laas.fr en mentionnant le n° de rapport LAAS et votre adresse postale. Signalez tout problème de fonctionnement à sysadmin@laas.fr. http://www.laas.fr/pulman/pulman-isens/web/app.php/