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12663
07/12/2012

Identification of VDMOS electrical parameters potentially usable as mechanical stress indicators for power assembly ageing monitoring

E.MARCAULT, A.BOURENNANE, M.BREIL, P.TOUNSI, J.M.DORKEL

ISGE

Manifestation avec acte : International Seminar on Power Semiconductors ( ISPS ) 2012 du 29 août au 31 août 2012, Prague (République Tchèque), Décembre 2012, 7p. , N° 12663

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128687
12454
29/08/2012

Auto-adaptive Multi-heat sources and multi-cooling surfaces dynamic compact thermal model

T.AZOUI, P.TOUNSI, E.MARCAULT, J.M.DORKEL, J.L.MASSOL

ISGE

Manifestation avec acte : International Seminar on Power Semiconductors (ISPS 2012), Prague (République Tchèque), 29-31 Août 2012, pp.155-161 , N° 12454

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127909
12117
05/07/2012

Démarche de simulation pour la conception de structures indicatrices du vieillissement de dispositifs de puissance

E.MARCAULT, A.BOURENNANE, M.BREIL, J.M.DORKEL

ISGE

Manifestation avec acte : Conférence Electronique de Puissance du Futur (EPF 2012), Bordeaux (France), 5-7 Juillet 2012, 2p. , N° 12117

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127661
12386
05/06/2012

Recherche d’un indicateur de l’état de vieillissement de composants électroniques de puissance

E.MARCAULT, M.BREIL, A.BOURENNANE, P.TOUNSI, J.M.DORKEL

ISGE

Manifestation sans acte : ANADEF, Seignosse (France), 5-8 Juin 2012, 15p. , N° 12386

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127732
11624
03/06/2012

Using zero thermal coefficient point property for VDMOS power devices health monitoring

E.MARCAULT, A.BOURENNANE, M.BREIL, P.TOUNSI, P.DUPUY

ISGE, FREESCALE

Manifestation avec acte : International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD 2012), Bruges (Belgique), 3-7 Juin 2012, 4p. , N° 11624

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127644
12444
25/05/2012

Contribution à l'intégration d'un indicateur de vieillissement lié à l'état mécanique de composants électroniques de puissance

E.MARCAULT

ISGE

Doctorat : Institut National des Sciences Appliquées, Toulouse, 25 Mai 2012, 134p., Président: E.WOIRGARD, Rapporteurs: Z.KATHIR, S.LEFEBVRE, Examinateurs: C.LEVADE, Directeurs de thèse: J.M.DORKEL, M.BREIL-DUPUY , N° 12444

Lien : http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00728764

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Résumé

Ce travail de thèse s’inscrit dans la cadre d’un projet ANR inter-Carnot « ReMaPoDe (Reliability Management of Power Devices) ». L’objectif général du projet est de réaliser un dispositif permettant d’évaluer en temps réel l’état de vieillissement d’un assemblage de puissance embarqué par le suivi de son état thermique et mécanique pendant son fonctionnement. L’essentiel du travail présenté dans ce mémoire consiste à mettre en évidence la relation entre le vieillissement mécanique d’un assemblage de puissance et les dérives électriques qui peuvent être observées. En outre, compte tenu des problèmes thermiques liés aux applications embarquées, la caractéristique électrique choisie comme indicateur doit être rendue indépendante des effets de la température. Ainsi, après un état de l’art consacré à la présentation des différents types de vieillissement et aux défaillances rencontrées dans les assemblages de puissance, nous distinguerons différentes caractéristiques électriques qui semblent prometteuses pour effectuer le suivi en temps réel de l’état de vieillissement mécanique d’un assemblage de puissance et ce malgré des variations de température ambiante et le vieillissement de certains matériaux constituant l’assemblage.

Abstract

This work is part of an inter-Carnot ANR project "ReMaPoDe (Reliability Management of Power Devices)." The overall project objective is to provide a device to evaluate the real-time status of ageing of a power assembly by monitoring its thermal and mechanical states during operation. Most of the work presented in this thesis consists in highlighting the relationship between the assembly mechanical ageing and the observed electrical evolution. Moreover, due to the thermal problems related to embedded applications, the electrical characteristic chosen as an indicator must allowed to overcome the effects of temperature. Consequently, following a state of the art dedicated to the presentation of different types of ageing and failures encountered in power assemblies, we will distinguish different electrical characteristics that seem promising to monitor in real time the mechanical ageing state of a power device assembly in spite of ambient temperature variations and the ageing of some materials constituting the assembly.

Mots-Clés / Keywords
Caractérisations électriques statiques et dynamiques; Simulations électro-thermo-mécaniques; Fiabilité des assemblages de puissance; Modélisation multi physique; Transistors VDMOS; Static and dynamic electrical characterizations; Electro-thermo-mechanical modeling; Reliability of power assemblies; Multi-physics modeling; VDMOS transistors;

127888
12191
16/04/2012

Numerical and experimental results correlation concerning power MOSFETs ageing

T.AZOUI, P.TOUNSI, P.DUPUY, J.M.DORKEL, E.MARCAULT

ISGE, FREESCALE

Manifestation avec acte : Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems (EuroSimE 2012), Lisbonne (Portugal), 16-18 Avril 2012, 4p. , N° 12191

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127132
11623
15/04/2012

3D deformation FEM simulations and measurement during VDMOS transistor operation

E.MARCAULT, D.WEIDMANN, A.BOURENNANE, M.BREIL, L.CHARPIOT

ISGE, INSIDIX

Manifestation avec acte : Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems (EuroSimE 2012), Lisbonne (Portugal), 15-18 Avril 2012, 4p. , N° 11623

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127131
11139
01/03/2012

VDMOS Ron as a mechanical state indicator for device failure anticipation

E.MARCAULT, M.BREIL, A.BOURENNANE, P.TOUNSI, J.M.DORKEL

ISGE

Revue Scientifique : Microelectronics Reliability, Vol.52, N°3, pp.489-496, Mars 2012 , N° 11139

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127144
11117
30/08/2011

Impact of source metallization ageing on thermo-mechanical characteristics of a vertical power device

E.MARCAULT, M.BREIL, A.BOURENNANE, P.TOUNSI, D.MARTINEAU, P.DUPUY

ISGE, CEMES/CNRS, FREESCALE

Manifestation avec acte : Power Electronics and Applications (EPE 2011), Birmingham (UK), 30 Août - 1 Septembre 2011, pp.1-7 , N° 11117

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