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17documents trouvés

12621
10/12/2012

Behavioural study of single envent burnout in power devices for natural radiation environment applications

M.ZERARKA, P.AUSTIN, G.TOULON, F.MORANCHO, H.ARBESS, J.TASSELLI

ISGE

Revue Scientifique : IEEE Transactions on Electron Devices, Vol.59, N°12, pp.3482-3488, Décembre 2012 , N° 12621

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128688
12209
29/08/2012

Impact of a backside Schotty contact on the thyristor characteristics at high temperatures

G.TOULON, A.BOURENNANE, K.ISOIRD

ISGE

Manifestation avec acte : International Seminar on Power Semiconductors (ISPS 2012), Prague (République Tchèque), 29-31 Août 2012, pp.131-136 , N° 12209

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127954
12210
29/08/2012

Analysis and optimization of a novel high voltage striped STI-LDMOS transistor on SOI CMOS technology

G.TOULON, I.CORTES, F.MORANCHO, K.ISOIRD, A.BOURENNANE

IMB-CSIC, ISGE

Manifestation avec acte : International Seminar on Power Semiconductors (ISPS 2012), Prague (République Tchèque), 29-31 Août 2012, pp.122-128 , N° 12210

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127955
12113
05/07/2012

Amélioration des performances du thyristor à l'état bloqué en haute température

G.TOULON, K.ISOIRD, A.BOURENNANE

ISGE

Manifestation avec acte : Conférence Electronique de Puissance du Futur (EPF 2012), Bordeaux (France), 5-7 Juillet 2012, 2p. , N° 12113

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127660
11676
20/03/2012

Analysis and optimization of lateral thin-film silicon-on-insulator (SOI) MOSFET transistors

I.CORTES, G.TOULON, F.MORANCHO, E. HUGONNARD-BRUYERE, B.VILLARD, W.J. TOREN

IMB-CSIC, ISGE, ATMEL

Revue Scientifique : Microelectronics Reliability, Vol.52, N°3, pp.503-508, Mars 2012 , N° 11676

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126809
11259
23/05/2011

Design and optimization of high voltage LDMOS transistors on 0.18 um SOI CMOS technology

G.TOULON, I.CORTES, F.MORANCHO, E. HUGONNARD-BRUYERE, B.VILLARD, W.J. TOREN

ISGE, ATMEL

Revue Scientifique : Solid State Electronics, Vol.61, N°1, pp.111-115, Mai 2011 , N° 11259

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124659
11258
23/05/2011

Design and optimization of different P-channel LUDMOS architectures on a 8.18 um SOI-CMOS technology

I.CORTES, G.TOULON, F.MORANCHO, E. HUGONNARD-BRUYERE, B.VILLARD, W.J. TOREN

ISGE, ATMEL

Revue Scientifique : Semiconductor Science and Technology, Vol.26, N°7, 075018p., Mai 2011 , N° 11258

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124657
11651
17/01/2011

Analysis and optimization of lateral thin-film silicon-on-insulator (SOI) PMOS transistor with an NBL layer in the drift region

I.CORTES, G.TOULON, F.MORANCHO, D.FLORES, E. HUGONNARD-BRUYERE, B.VILLARD

ISGE, Université de Barcel, ATMEL

Manifestation avec acte : Workshop of the Thematic Network on Silicon on Insulator Technology, Devices and Circuits (EUROSOI 2011), Grenade (Espagne), 17-19 Janvier 2011, 2p. , N° 11651

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125946
10102
01/12/2010

Analysis and Optimization of LUDMOS Transistors on a 0.18¼m SOI CMOS Technology

G.TOULON, I.CORTES, F.MORANCHO, B.VILLARD

ISGE, ATMEL

Revue Scientifique : International Journal of Microelectronics and Computer Science, Vol.1, N°1, pp.3-8, 2010 , N° 10102

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123740
10868
18/11/2010

Conception de transistors MOS haute tension en technologie CMOS 0,18 um sur substrat "silicium sur isolant" (SOI pour les nouvelles gégérations de circuits intégrés de puissance

G.TOULON

ISGE

Doctorat : Université Paul Sabatier, Toulouse, 18 Novembre 2010, 148p., Président: P.AUSTIN, Rapporteurs: B.ALLARD, D.FLORES, Examinateurs: N.KERNEVEZ, B.VILLARD, Directeurs de thèse: F.MORANCHO , N° 10868

Lien : http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00566469/fr/

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Résumé

Conception de transistors MOS haute tension en technologie CMOS 0,18 µm sur substrat "silicium sur isolant" (SOI) pour les nouvelles générations de circuits intégrés de puissance. Les circuits intégrés de puissance combinent dans une même puce des fonctions logiques digitales, obtenues par des circuits CMOS, associées à des interrupteurs de puissance de type transistors DMOS. La demande pour des applications de plus en plus complexes nécessite l'utilisation de lithographies plus fines pour augmenter la densité de composants CMOS. L'évolution des technologies CMOS oblige à développer des composants DMOS compatibles dans les circuits intégrés de puissance. Le travail de cette thèse se concentre sur la conception de transistors LDMOS haute tension (120 V) compatibles avec un procédé CMOS 0,18 µm sur substrat " silicium sur isolant " (SOI). Différentes architectures de transistors LDMOS à canal N et P ont été proposées et optimisées en termes de compromis " tenue en tension / résistance passante spécifique " à partir de simulations TCAD à éléments finis. Les performances de ces structures ont été comparées en termes de facteur de mérite Ron×Qg qui est le produit entre charge de grille et résistance passante spécifique, mais aussi en termes d'aire de sécurité. Les meilleurs transistors STI-LDMOS et SJ-LDMOS (à canal N) et R-PLDMOS (à canal P) affichent des performances statiques et dynamiques comparables voire parfois supérieures à celles des composants de puissance de la littérature. Différentes mesures effectuées sur les transistors LDMOS réalisés par ATMEL et comparées aux simulations ont permis de valider les simulations effectuées dans cette thèse.

Abstract

Power integrated circuits combine on a same ship digital logic functions from CMOS circuits associated with power switches such as DMOS transistors. The demand for more and more complex applications requires finer lithography in order to increase the CMOS components density. The evolution of CMOS technology requires developing new DMOS components compatible with the power integrated circuits. This thesis focuses on the conception of high voltage LDMOS transistors (120V) compatible with a 0.18 µm CMOS process based on a "silicon on insulator" substrate. Several N and P channel LDMOS transistor designs were studied and optimised in terms of "breakdown voltage / specific on-state resistance" trade-off from finite element TCAD simulations. The performances of the structures were compared in terms of figure of merit Ron×Qg, which is the product between the on-state resistance and the gate charge, and in terms of safe operating area. The best STI-DLMOS and SJ-LDMOS (N-type) and R-PLDMOS (P-type) transistors exhibit static and dynamic performances comparable and sometime superior to those of the state-of-the-art power transistors. Different experimental measurements carried out on LDMOSFETs manufactured by ATMEL and compared with simulations, allowed to validate the simulation results performed in this thesis.

Mots-Clés / Keywords
Transistors LDMOS; Circuits intégrés de puissance; SOI; Simulations numériques à éléments finis; LDMOS transistors; Power integrated circuits; SOI finite-element numerical simulations;

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