Retour au site du LAAS-CNRS

Résumé

La microscopie à force atomique est l'une des nouvelles microscopies dites de proximité, ou de champ proche, basée sur l'interaction entre une pointe-sonde et la surface de l'échantillon. L'intérêt de ce microscope est une sonde d'analyse locale qui permet d'obtenir des images tridimensionnelles de la topographie des surfaces avec une très haute résolution spatiale et verticale. La résolution atomique de défauts ponctuels peut être obtenue sous ultravide. Le microscope à force atomique fonctionne à l'air libre, sous vide, mais également en milieu liquide ce qui élargit ses possibilités à des domaines comme l'électrochimie ou l'étude des matériaux biologiques vivants. Sa pointe-sonde est sensible à différents types de forces : les forces de Van Der Waals, les forces répulsives, les forces électrostatiques et magnétiques, les forces adhésives et de friction. Ainsi, la microscopie à force atomique permet également de fournir des mesures de propriétés physiques, mécaniques (élasticité, viscosité), tribologiques (friction, adhésion), magnétiques et électriques avec une résolution dans le domaine nanométrique.

Mots-Clés / Keywords

Pointe-sonde; Topographie des surfaces; Résolution atomique; Forces de Van Der Waals; Forces répulsives; Forces électrostatiques et magnétiques; Forces adhésives et de friction; Mesures de propriétés physiques; Mécaniques; Microscopie à force atomique;