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Low frequency noise behavior in GaN HEMT's on silicon substrate

L.BARY, E.ANGELI, A.RENNANE, G.SOUBERCAZE PUN, J.G.TARTARIN, A.MINKO, V.HOEL, Y.CORDIER, C.DUA, R.PLANA, J.GRAFFEUIL

2I, CISHT, TRT, CRHEA

Manifestation avec acte : Noise in Devices and Circuits (FN'04), Las Palmas (Espagne), 25-28 Mai 2004, 10p. , N° 04773

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Potentialities of low frequency noise measurement as ESD latent defect detection for high reliability applications

N.GUITARD, D.TREMOUILLES, M.BAFLEUR, L.ESCOTTE, L.BARY, P.PERDU, G.SARRABAYROUSE, N.NOLHIER, R.REYNA ROJAS

CIP, CISHT, 2I, CNES-THALES, TMN, CNES

Manifestations avec acte à diffusion limitée : Workshop EOS/ESD/EMI, Toulouse (France), 13 Mai 2004, 4p. , N° 04283

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Reliability properties of SiGe HBTs

A.RENNANE, L.BARY, J.L.ROUX, J.KUCHENBECKER, J.GRAFFEUIL, R.PLANA

2I, CISHT, CNES

Revue Scientifique : Applied Surface of Science, Issues 1-4, Vol.224, pp.341-346, Mars 2004 , N° 03376

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Caractérisation des propriétés en bruit basse fréquence des transistors à effet de champ de type HEMT à base d'hétérojonction AlGaN/GaN

A.RENNANE, L.BARY, E.ANGELI, J.G.TARTARIN, J.GRAFFEUIL, R.PLANA

CISHT, 2I

Manifestations avec acte à diffusion limitée : 7ème Journée Microondes et Electromagnetisme de Toulouse (JMET'2004), Toulouse (France), 25 Février 2004, 4p. , N° 04086

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Compact membrane-supported bandpass filter for millimetre-wave applications

D.NECULOIU, G.BARTOLUCCI, P.PONS, L.BARY, D.VASILACHE, A.MULLER, R.PLANA

Tor Vergata, TMN, 2I, CISHT, IMT

Revue Scientifique : Electronics Letters, Vol.40, N°3, pp.180-182, 5 Février 2004 , N° 04778

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Optimisation of an ultra low phase noise sapphire - SiGe HBT oscillator using nonlinear CAD

G.CIBIEL, M.REGIS, O.LLOPIS, Y.KERSALE, V.GIORDANO, A.RENNANE, L.BARY, R.PLANA

SiGe Semiconductor, CISHT, LPMO

Revue Scientifique : IEEE Transactions on Ultrasonics, Ferroelectrics, and Frequency Control, Vol.51, N°1, pp.33-41, Janvier 2004 , N° 02167

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Microsystèmes RF et micro-ondes

F.FLOURENS, L.RABBIA, S.MELLE, K.YACINE, J.KUCHENBECKER, P.SCHMITT, X.LAFONTAN, P.PONS, D.DUBUC, L.BARY, A.BOUKABACHE, K.GRENIER, R.PLANA, V.CONEDERA, P.F.CALMON

TMN, CISHT, MEMSCAP, 2I, TEAM

Rapport de Contrat : Projet CNEST DTS/AQ/CQP/CE-2001-016, Novembre 2003, 52p. , N° 03621

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Low frequency noise behaviour in AlGaN/GaN HEMT's

A.RENNANE, L.BARY, J.G.TARTARIN, Y.GUHEL, C.GAQUIERE, J.C.DE JAEGER, Z.BOUGRIOUA, S.DELAGE, J.GRAFFEUIL, R.PLANA

CISHT, 2I, IEMN Villeneuve, CRHEA, THALES Paris

Manifestations avec acte à diffusion limitée : 12th European Workshop on Heterostructure Technology (heTech'03), Segovie (Espagne), 12-15 Octobre 2003, 2p. , N° 03452

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High electric field induced degradation in Si/SiGe HEMT's

J.KUCHENBECKER, A.RENNANE, M.BORGARINO, L.BARY, R.PLANA, F.FANTINI

CISHT, Modena, 2I

Manifestations avec acte à diffusion limitée : 12th European Workshop on Heterostructure Technology (heTech'03), Segovie (Espagne), 12-15 Octobre 2003, 2p. , N° 03453

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Reliability overview of RF MEMS devices and circuits

S.MELLE, F.FLOURENS, D.DUBUC, K.GRENIER, P.PONS, F.PRESSECQ, J.KUCHENBECKER, J.L.MURARO, L.BARY, R.PLANA

TMN, CNES, CISHT, ALCATEL ESPACE, 2I

Manifestation avec acte : 33rd European Microwave Conference (EuMC'2003), Munich (Allemagne), 6-10 Octobre 2003, pp.37-40 , N° 03418

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