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Fiabilité composants et packaging

C.PELLET, Y.DANTO, M.BAFLEUR, J.Y.FOURNIOLS, J.M.DUMAS, S.NOEL, F.FOREST, L.TORRES, R.VELAZCO, L.BECHOU

ISGE, MIS, IXL, LIRMM, SUPELEC

Rapport de Contrat : RTP Fiabilité, Juillet 2006, 62p. , N° 06526

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Procédé et dispositif informatique de détermination de la fiabilité d'un microsystème

P.SCHMITT, F.PRESSECQ, D.ESTEVE, J.Y.FOURNIOLS

NOVAMEMS, CNES, MIS

Brevet : Brevet N° WO 2006/067306 A2, Juin 2006, 59p. , N° 06549

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Method and computer device for determining the reliability of a microsystem

P.SCHMITT, F.PRESSECQ, D.ESTEVE, J.Y.FOURNIOLS

CNES, N2IS

Brevet : Numéro de publication Internationale: WO2006067306, Juin 2006, 61p. , N° 06264

Lien : http://ep.espacenet.com/numberSearch?locale=fr_EP

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MEMS reliability analysis: thermal MEMS case of study

S.MURATET, S.LAVU, J.Y.FOURNIOLS, G.BELL, M.DESMULLIEZ, J.L.BOIZARD

MIS, MISEC, ALBA

Revue Scientifique : Journal of Physics: Conference Series, Vol.34, pp.235-240, 2006 , N° 06397

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Reliability modelling and analysis of thermal MEMS

S.MURATET, S.LAVU, A.ALIANE, J.Y.FOURNIOLS, M.DESMULLIEZ

MISEC, MIS

Manifestation avec acte : International MEMS Conference (iMEMS'2006), Singapour, 9-12 Mai 2006, 2p. , N° 05463

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U-shaped electro thermal actuator modelling

S.MURATET, J.Y.FOURNIOLS, J.L.BOIZARD

MIS

Rapport de Contrat : Contrat PATENT Design for Micro and Nano Manufacture, Mai 2006, 38p. , N° 06395

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FMEA on MEMS thermal actuator

S.LAVU, M.DESMULLIEZ, G.BELL, S.MURATET, J.Y.FOURNIOLS, I.DE WOLF

MISEC, MIS, IMEC, ALBA

Rapport de Contrat : Contrat PATENT Design for Micro and Nano Manufacture, Mai 2006, 30p. , N° 06396

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A 3D real-time vision system based on passive stereovision algorithms: application to laparoscopic surgical manipulations

A.NAOULOU , J.L.BOIZARD, J.Y.FOURNIOLS, M.DEVY

MIS, RIA

Manifestations avec acte à diffusion limitée : 2nd IEEE International Conference on Information of Communication Technologies from Theory to Applications (ICTTA'06), Damas (Syrie), 24-28 Avril 2006, 6p. , N° 06383

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Microsystem simulation with VHDL-AMS

S.MURATET, J.Y.FOURNIOLS, J.OUDINOT, M.DESMULLIEZ

MIS, Mentor Meudon, MISEC

Manifestations avec acte à diffusion limitée : European Congresson Sensors & Actuators for Advanced Automotive Applications (SENSACT'2005), Paris (France), 7-8 Décembre 2005, 11p. , N° 05708

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Reliability modelling of thermal MEMS

S.MURATET, A.ALIANE, J.L.BOIZARD, J.Y.FOURNIOLS

MIS

Manifestations avec acte à diffusion limitée : Joint Workshop on MEMS Reliability, Arcachon (France), 10 Octobre 2005, 2p. , N° 05437

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