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Laboratoire d’analyse et d’architecture des systèmes

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128documents trouvés

16435
31/10/2016

A 3U cubesat to investigate erbium doped fiber degradation at low earth orbit

A.FERNANDEZ , O.LLOPIS, N.NOLHIER, C.VIALLON, A.RISSONS, F.DESTIC, S.Lizy-Destrez

MOST, ESE, ISAE

Manifestation avec acte : Avionics and Vehicle Fiber-Optics and Photonics Conference ( AVFOP ) 2016 du 31 octobre au 03 novembre 2016, Long Beach (USA), Octobre 2016, 3p. , N° 16435

Lien : https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01396269

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Abstract

The next generation of telecommunication satellites operating in the Ku and Ka bands consider radio over optical fiber (RoF) technologies as a good candidate for the future flexible payloads. In this context we have started a 3U nanosatellite dedicated to the qualification of an erbium doped fiber by using an optoelectronic metrology technique. This educational project called NIMPH (Nanosatellite to Investigate Microwave Photonics Hardware) aims to quantify the gain and noise figure degradation due to cosmic ray exposure of this type of fiber during a two years mission at a low earth orbit (LEO).

138349
16473
13/10/2016

Energy autonomy of batteryless and wireless embedded systems

J.M.DILHAC, V.BOITIER

ESE

Ouvrage (auteur) : Energy autonomy of batteryless and wireless embedded systems, ISTE Ltd, N°ISBN 9781785481239, Octobre 2016, 176p. , N° 16473

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Abstract

Energy Autonomy of Batteryless and Wireless Embedded Systems covers the numerous new applications of embedded systems that are envisioned in the context of aeronautics, such as sensor deployment for flight tests or for structural health monitoring. However, the increasing burden of on-board cabling requires wireless solutions. Moreover, concerns such as safety or system lifetime preclude the use of electrochemical energy storage. Ambient energy capture, storage and management are therefore key topics. This book presents these concepts and illustrates them through actual implementations in airliners. With five years of experience within this specialist field, the authors present results from actual flight tests via a partnership with Airbus. Basic concepts are summarized, together with practical implementations in airliners, enriching the book through the very specific aspects related to embedded systems deployed in aircraft. This book will appeal to both students and practising engineers in the field.

138519
16420
11/09/2016

From quasi-static to transient system level ESD simulation: Extraction of turn-on elements

F.ESCUDIE, F.CAIGNET, N.NOLHIER, M.BAFLEUR

ESE

Manifestation avec acte : Annual EOS/ESD Symposium & Exhibits 2016 du 11 septembre au 16 septembre 2016, Anaheim (USA), Septembre 2016, 10p. , N° 16420

Lien : https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01387072

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Abstract

Transient simulation is a main challenge to achieve system level ESD failure prediction. During the turn-on of the protections, complex phenomena introduce complex transient behaviors. In this paper we investigate the parameters that have to be added to perform accurate transient simulations and we propose a methodology to extract them by measurements.

138308
16404
11/07/2016

Construction d'un modèle ICEM pour prédire l'émission électromagnétique d'un FPGA

C.GHFIRI, A.BOYER, A.DURIER, S.BEN DHIA, C.MAROT

ESE, IRT, AIRBUS Groupe

Manifestation avec acte : Colloque International et Exposition sur la Compatibilité ÉlectroMagnétique ( CEM ) 2016 du 11 juillet au 13 juillet 2016, Rennes (France), Juillet 2016, 5p. , N° 16404

Lien : https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01403883

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Résumé

Ce papier donne une description du flot de construction et de validation d'un modèle équivalent d'émission conduite d'un circuit intégré complexe (FPGA), basé sur l'approche de modélisation ICEM-CE.

138275
16454
11/07/2016

Amélioration de la résolution spatiale de scan champ proche en injection

A.BOYER

ESE

Manifestation avec acte : Colloque International et Exposition sur la Compatibilité ÉlectroMagnétique ( CEM ) 2016 du 11 juillet au 13 juillet 2016, Rennes (France), Juillet 2016, 6p. , N° 16454

Lien : https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01403886

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Abstract

L'injection en champ proche est une méthode prometteuse pour l'analyse de la susceptibilité des cartes et composants électroniques aux interférences électromagnétiques. Les cartographies ou scans résultantes de ces injections fournissent une localisation précise des zones sensibles aux interférences électromagnétiques. Un paramètre essentiel est la résolution spatiale des scans, qui dépend de la taille des sondes d'injection et de la distance sonde test. Cet article présente une méthode de post dédiée à l'amélioration de la résolution spatiale des scans d'immunité, validée sur des cas d'étude au niveau carte électronique et circuit intégré.

138443
16452
18/05/2016

A methodologic project to characterize and model COTS components EMC behavior after ageing

A.DURIER, A.BOYER, G.DUCHAMP

IRT, ESE, IXL

Manifestation avec acte : Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility ( APEMC ) 2016 du 18 mai au 21 mai 2016, Shenzhen (Chine), Mai 2016, pp.376-379 , N° 16452

Lien : https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01403877

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Abstract

The industries of transportation as the space industry are faced with a strong global economic competition which sets economic constraints on the cost of the functions. The use of COTS (Commercial Off-The-Shelf) components in embedded systems is more and more necessary to shorten the development cycles and reduce manufacturing costs. The application of electronic components comes overwhelmingly from public sectors whose requirement is to provide, in short development cycles, technological innovations including risk and cost mitigation. These development cycles must incorporate the specific constraints of embedded systems which are subject to strong normative requirements in terms of robustness and especially in terms of ElectroMagnetic Compatibility (EMC). In order to anticipate the risk of EMC non-compliance at electronic equipment level, the use of simulation tools and the development of EMC components models particularly at Integrated Circuits level has grown in recent years

138439
16403
18/05/2016

Construction of an integrated circuit emission model of a FPGA

C.GHFIRI, A.DURIER, A.BOYER, S.BEN DHIA, C.MAROT

ESE, IRT, AIRBUS Groupe

Manifestation avec acte : Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility ( APEMC ) 2016 du 18 mai au 21 mai 2016, Shenzhen (Chine), Mai 2016, pp.402-405 , N° 16403

Lien : https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01403872

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Abstract

This paper describes the construction flow and the validation of an equivalent conducted emission model of a complex integrated circuit (a FPGA), based on the ICEM (Integrated Circuit Emission Model) modeling approach.

138273
16456
18/05/2016

Predicting the risk of non-compliance to EMC requirements during the life-cycle

A.BOYER, S.BEN DHIA

ESE

Manifestation avec acte : Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility ( APEMC ) 2016 du 18 mai au 21 mai 2016, Shenzhen (Chine), Mai 2016, pp.452-455 , N° 16456

Lien : https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01403875

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Abstract

This paper presents a simulation flow for the prediction of the long-term evolution of EMC levels during the lifetime of electronic devices or systems. This new requirement is essential to extend the warranty of critical applications operating in harsh environments. The simulation of the evolution of the electromagnetic emission of a switched-mode power supply is given as a validation case.

138447
16455
18/05/2016

A review of research on the effect of aging on the EMC of integrated circuits

S.BEN DHIA, A.BOYER

ESE

Manifestation avec acte : Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility ( APEMC ) 2016 du 18 mai au 21 mai 2016, Shenzhen (Chine), Mai 2016, 3p. , N° 16455

Lien : https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01403874

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Abstract

Electromagnetic compatibility (EMC) is an essential requirement to electronic systems in which integrated circuits have a major influence. Intrinsic degradation mechanisms, which produces anticipated wear-out in deep submicron components threat not only the reliability of circuits, but also EMC performances. The need to predict and ensure long-term EMC has become a key challenge. This paper aims at presenting the last results on the long-term EMC topic. The paper clarifies the effect of device degradation mechanisms on EMC level drifts during lifetime and presents some attempts to predict these evolutions.

138445
16453
18/05/2016

Improving spatial resolution of immunity maps by post-processing

A.BOYER

ESE

Manifestation avec acte : Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility ( APEMC ) 2016 du 18 mai au 21 mai 2016, Shenzhen (Chine), Mai 2016, pp.56-59 , N° 16453

Lien : https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01403868

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Abstract

Near-field injection is a promising method for the analysis of the susceptibility of electronic boards and circuits. The resulting immunity map provides a precise localization of the sensitive area to electromagnetic disturbances. A major requirement is the spatial resolution of the immunity map. This paper aims at proposing a post-processing method to enhance the spatial resolution of immunity map and validating it on case studies at board and integrated circuit levels.

138441
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