Aller sur le site du CNRS
Retour au site du LAAS-CNRS
Site Université de Toulouse
Site Institut CARNOT
Laboratoire d’Analyse et d’Architecture des Systèmes
{menu secondaire item-04}
Plateforme caractérisation
La plate-forme Caractérisation du LAAS regroupe, mutualise et organise tous les moyens de caractérisation de micro et nano-systèmes du laboratoire dans les domaines : électrique, hyperfréquence, optique et micro/nanosystèmes pour la chimie et la biologie.
La plate-forme Caractérisation accueille l'activité de caractérisation de 7 groupes de recherche et de deux services techniques avec le soutien technique du service 2I et sous la coordination d'une Cellule Caractérisation.
La plate-forme Caractérisation accueille l'activité de caractérisation de 7 groupes de recherche et de deux services techniques avec le soutien technique du service 2I et sous la coordination d'une Cellule Caractérisation.
Caractérisation Electrique DC et basses fréquences
|
Cette zone regroupe les moyens de test et de caractérisation électrique de micro et nanosystèmes tels que : I-V, C-V, mesure d’impédance, test paramétrique, traceurs de courbes, mesure par effet Hall, DLTS, etc... Elle comprend notamment 3 stations sous pointes : I-V moyenne et forte puissance, I-V bas courant, et mesure d’impédance (jusqu’à 110 MHz).
|
 |
Caractérisation hyperfréquence
 |
Le LAAS a les moyens d’effecteur des mesures de paramètres S sous pointes à partir de 9 kHz jusqu’à 110 GHz et dans la bande de fréquence supérieure 140-220 GHz. Des mesures spectrales sous pointes sont possibles du DC jusqu’à 90 GHz. Plusieurs bancs pour la mesure de fiabilité de MEMS existent (cyclage, comportement thermique sous de la puissance RF, …) avec notamment l’utilisation d’une station sous pointes cryogénique à ambiance contrôlée. |
Caractérisation Optique
La zone de caractérisation optique regroupe les expérimentations des chercheurs travaillant dans les domaines de l’optique et de la photonique. Ces expériences vont des caractérisations optiques de matériaux semi-conducteurs aux caractérisations de composants photoniques passifs (filtres à réseaux résonnants, micro-cavités…) et actifs (VCSELs, diodes laser, photodétecteurs, …) : PL et PLE en température, spectroscopie TFIR, I de V, P de I laser, diagrammes de divergence, analyse spectrale, pompage optique de sources à cristaux photoniques… dans les domaines visible et proche infrarouge.
Cette zone regroupe les moyens suivants:
Caractérisation de Micro et nanosystèmes pour la chimie et la biologie
- caractérisation de micro et nano systèmes appliqués à la CHIMIE:
-caractérisation en milieu liquide
-caractérisation en milieu gazeux
- caractérisation de micro et nano systèmes appliqués à la BIOLOGIE:
-bio-détection mécanique
-bio-détection électrique
-moteurs moléculaire
-microbalance
-robot de dépôt de micro-gouttes
- caractérisation générale:
-profilomètre optique
-binoculaire avec possibilité d’actionnement électrique sous pointe
Liens intranet :
